Capteur de vieillissement BTI intégré au produit pour le contrôle de la fiabilité et la détection précoce des matériaux à risque

Nous avons développé une nouvelle suite de surveillance de la fiabilité, au sein d’un bloc IP propriétaire que nous appelons CV® Core, avec des capteurs vieillissants intégrés dans la présentation du produit et testables via l’interface E/S du produit. Nous illustrons l’application de la suite de capteurs avec un exemple du moniteur PMOS NBTI, testable au niveau de la tranche pendant le tri électrique des tranches (EWS), ainsi qu’après l’emballage lors du test final ou pendant le rodage. Pendant l’EWS, le test de contrainte au niveau de la tranche peut être utilisé pour identifier une puce marginale, faciliter la disposition des matériaux pour le rodage ou prendre en charge une gradation supplémentaire pour la correspondance des puces pour les modules multi-puces. Les capteurs de vieillissement peuvent également être utilisés pendant la durée de vie de la puce pour surveiller l’usure du dispositif et alerter les utilisateurs en cas de taux de vieillissement anormal du silicium par rapport au profil de mission cible. Dans ce travail, nous montrons les résultats des tests au niveau de la tranche pour les taux de dégradation des transistors PMOS sous contrainte NBTI, dans la variabilité de la tranche, et la corrélation des taux de dégradation entre les capteurs sollicités dans différentes conditions.

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